Fairchild Camera and Instrument Corp. (Маунтен-Вью, шт.Калифорния)

Наименования фирмы в статьях журнала "Электроника"
        Fairchild (Маунтин-Вью, шт.Калифорния)
        Fairchild Camera & Instrument Corp.
        Fairchild Camera & Instrument S.A., 121 Ave. d'Halie, 750013-Paris
        Fairchild Camera Instrument Corp. (Маунтен-Вью, шт.Калифорния)
        Fairchild Camera Instruments Corp. (Маунтен-Вью, шт.Калифорния)
        Fairchild Camera and Instrument Corp. (Маунтен-Вью, шт.Калифорния)
        Fairchild Camera and Instrument Corp. (Сан-Хосе, шт.Калифорния)
        Fairchild Camera and Instrument Corp. (Чатсуэрт, шт.Калифорния)
        Fairchild Camera and Instrument Corp., Test System Group, 1725 Technology Dr., San Jose, Calif. 95110
        Fairchild Camera and Instrument Corp., Test Systems Group, 1725 Technology Dr. San Jose, Calif. 95110
        Fairchild Camera and Instruments Corp., 464 Ellis St. Mountain View, Calif. 94042
        Fairchild Camera and Instruments Corp., 464 Ellis St., Mountain View, Calif. 64042
        Fairchild Camera and Instruments Corp., MOS Products Division, 464 Ellis St., Mountain View, Calif. 64042
        Farchild Camera and Instrument Corp. (Майнтен-Вью, шт.Калифорния)
        MOS Products Division, Fairchild Camera and Instrument Corp., 464 Ellis St., Mountain View, Calif. 94042
        Фирма Fairchild Camera and Instrument Corp. (Маунтен-Вью, шт.Калифорния)
        Фирма Fairchild Camera and Instrument Corp. (Маунтин-Вью, шт.Калифорния)

Статьи в журнале "Электроника"

• ОБОЗРЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ
  • Два важных достижения в области ПЗС
    Журнал "Электроника" том 52, No.06 (558), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • Положение фирмы Fairchild привлекает покупателей
    Журнал "Электроника" том 52, No.10 (562), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • Биполярные ЗУПВ с уменьшенными геометрическими размерами элементов
    Журнал "Электроника" том 52, No.18 (570), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
    • Описаны статические биполярные ЗУПВ, выполненные по технологии с уменьшенными геометрическими размерами элементов и благодаря этому не уступающие в быстродействии лучшим МОП ЗУ. В настоящее время на базе этой технологии разрабатывается ЗУ следующего поколения — емкостью 16К.
  • Фирма Fairchild выигрывает процесс против компании Data General
    Журнал "Электроника" том 53, No.07 (585), 1980г - пер. с англ. М.: Мир, 1980
  • Локальная сеть как средство проверки СБИС
    Журнал "Электроника" том 55, No.12 (642), 1982г - пер. с англ. М.: Мир, 1982
• ЭЛЕКТРОНИКА ЗА РУБЕЖОМ
  • Гиперкуб, объединяющий восемь микрокомпьютеров
    Журнал "Электроника" том 52, No.10 (562), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
• МЕТОДЫ, СХЕМЫ, АППАРАТУРА
  • Высококачественные Шоттки/ТТЛ ИС, изготовленные по технологии окисной изоляции
    Журнал "Электроника" том 52, No.05 (557), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
    • Описано новое семейство ТТЛ ИС с диодами Шоттки, изготавливаемые по технологии окисной изоляции "Изопланар II". Схемы этого семейства по мощности примерно соответствует современным маломощным Шоттки/ТТЛ ИС, а по быстродействию - стандартным Шоттки/ТТЛ ИС. Столь высокие характеристики получены благодаря значительному уменьшению размеров транзисторов и их паразитных емкостей и применению более совершенных схемных решений.
  • Набор ЭСЛ БИС для построения быстродействующих секционированных процессоров
    Журнал "Электроника" том 52, No.16 (568), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
    • Подробно описано новое семейство F100220 ЭСЛ БИС, содержащее 8-бит секционные элементы с очень высоким быстродействием. Состав нового семейства приборов обеспечивает высокую гибкость и универсальность, позволяя применять их для построения различных вычислительных устройств и систем. Приведен пример реализации центрального процессора быстродействующего 32-бит компьютера на основе БИС нового семейства.
  • Физические характеристики
    Журнал "Электроника" том 52, No.16 (568), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • Создание высококачественных цифровых БИС и СБИС по технологии «Изопланар-S»
    Журнал "Электроника" том 52, No.25 (577), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
    • Описана новая технология «Изопланар-S», предназначенная для создания новых поколений сверхбыстродействующих биполярных цифровых БИС и СБИС. Технология предусматривает пропорциональную миниатюризацию элементов с уменьшением их линейных размеров в перспективе до 1 мкм. В качестве примера рассмотрены приборы, созданные по новой технологии и убедительно свидетельствующие о ее больших возможностях и перспективах.
• КОМПОНЕНТЫ, ПРИБОРЫ, СИСТЕМЫ
  • Система тестирования, снижающая стоимость проверки БИС
    Журнал "Электроника" том 52, No.01 (553), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • 10-компонентный комплект для набора 44 12-значных номеров
    Журнал "Электроника" том 52, No.01 (553), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • Недорогая плата для первоначального знакомства с семейством F3870
    Журнал "Электроника" том 52, No.08 (560), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • Система машинного проектирования фирмы Fairchild
    Журнал "Электроника" том 52, No.10 (562), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
• РЕКЛАМНЫЕ СООБЩЕНИЯ
  • ИС многоканального АЦП
    Журнал "Электроника" том 52, No.04 (556), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • Комплект БИС фирмы Fairchild
    Журнал "Электроника" том 53, No.07 (585), 1980г - пер. с англ. М.: Мир, 1980
• ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ
  • Тестер для ЦМД ЗУ, разработанный отделением XINCOM фирмы FAIRCHILD
    Журнал "Электроника" том 52, No.06 (558), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • Система фирмы Fairchild для проверки современных микропроцессоров и интегральных схем
    Журнал "Электроника" том 52, No.20 (572), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • Фирма Fairchild укрепляет свои позиции на западноевропейском рынке
    Журнал "Электроника" том 52, No.25 (577), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979
  • Новые испытательные установки фирмы Fairchild
    Журнал "Электроника" том 54, No.22 (627), 1981г - пер. с англ. М.: Мир, 1981